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普申测厚仪
用于测量金属底材上的干膜厚度。
技术参数
产品
普申磁性测厚仪
普申磁性非磁性测厚仪
订购编号
PS 2633/1
PS 2634/1
测量原理
电磁式(磁性基底)
电磁式(磁性基底)+ 涡流式(非磁性基底)
自动识别磁性基底和非磁性基底
测量范围
0-1250μm
0-1250μm
测量精度误差
单点校准:±(1+3%H)
三点、四点校准:±[(1%+3%H)]H+1.5
单点校准:±(1+3%H)
三点、四点校准:±[(1%+3%H)]H+1.5
最小基体
10mm*10mm
10mm*10mm
最小曲率
凸:5mm 凹:5mm
凸:5mm 凹:5mm
最薄基体
0.4mm
0.4mm