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产品目录

普申测厚仪

用于测量金属底材上的干膜厚度。


术参数

产品

普申磁性测厚仪

普申磁性非磁性测厚仪

订购编号

PS 2633/1

PS 2634/1

测量原理

电磁式(磁性基底)

电磁式(磁性基底)+ 涡流式(非磁性基底)

自动识别磁性基底和非磁性基底

测量范围

0-1250μm

0-1250μm

测量精度误差

单点校准:±(1+3%H)

三点、四点校准:±[(1%+3%H)]H+1.5

单点校准:±(1+3%H)

三点、四点校准:±[(1%+3%H)]H+1.5

最小基体

10mm*10mm

10mm*10mm

最小曲率

凸:5mm  凹:5mm

凸:5mm  凹:5mm

最薄基体

0.4mm

0.4mm